-Plea to Doctor's Degree-

OEI丰收季

博士答辩预告

2022年夏西安电子科技大学光电成像工程中心迎来“丰收季”，5月27日我中心邵晓鹏教授指导的三位博士：郭成飞，朱磊，朱进进将进行博士学位论文答辩，答辩会将以线上线下相结合的方式举行，欢迎旁听交流。

答辩会安排

时间：2022年5月27日18:00

线上：腾讯会议，会议号：583754555

答辩专家组

组长：胡炳樑（研究员，西安光学精密机械研究所）

成员：

高教波（研究员，西安应用光学研究所）

蒲继雄（教授，华侨大学）

朱京平（教授，西安交通大学）

赵小明（副教授，西安电子科技大学）

刘飞（教授，西安电子科技大学）

答辩人及论文简介

郭成飞，西安电子科技大学光电工程学院2016级光学工程专业博士生，2018年12月至2022年6月在美国康涅狄格大学联合培养。研究领域是计算成像，主要研究方向涉及散射成像，全切片成像以及光学叠层成像。博士在读期间以第一作者/共同第一作者在Optics Letters，Optics Express，Biomedical Optics Express，Biosensors and Bioelectronics，ACS Photonics，ACS sensors，Lab on a chip等期刊共发表14篇。

论文题目：全切片成像方法研究

简介：全切片成像（Whole slide imaging, WSI）是一种大视场、高分辨率显微成像技术，其利用高倍高数值孔径物镜或超分辨率重构算法采集高分辨率图像，通过扫描或非扫描的方式获取目标的大视场，最终形成一整张数字的、高清晰的、无缝的以及全切片的目标图像。本文系统地介绍了WSI技术的发展历程，总结了当前自动对焦技术的分类及实现方式，针对传统显微镜系统和商业化全切片扫描仪面临的视场与分辨率相互制约的矛盾以及物体的定量相位信息丢失的问题，从基于传统显微镜系统的扫描拼接式与基于无透镜成像系统的计算重构式两种WSI技术路线出发，主要解决了传统显微镜系统和商业化全切片扫描仪中存在的非自动化操作、主观像质评价、景深有限、成像通量低、非实时自动对焦以及成像模态单一等问题。

答辩人及论文简介

朱磊，西安电子科技大学光电工程学院2016级博士研究生生，导师邵晓鹏教授。2019年9月至今，于法国LKB实验室进行联合培养，合作导师Sylvain Gigan教授。从2016年至今，研究方向为透过散射介质成像。

论文题目：透过散射介质非入侵成像方法研究

简介：透过散射介质非侵入光学成像在生物医学、光学检测等诸多方面都有重要应用，但非均匀样品（例如生物组织）所引入的散射现象会导致光在探测器上形成复杂的散斑图案。随着穿透深度的增加，从散射光中提取少量的弹道光极具挑战。近年来，尽管提出了各种方法实现透过散射介质的光的利用和操控。但是由于光学记忆效应的限制，特别在没有波前整形技术的情况下，透过散射介质的超光学记忆效应非入侵成像仍然难以实现。虽然现有方法能够实现透过散射介质非入侵成像，但是散斑相关成像技术依然有三方面问题亟待解决：1.彩色成像难点问题；2.非入侵成像视场受限问题；3.多光学记忆效应成像难点问题。针对以上的难点问题，博士课题开展了相应的研究工作，实现了透过散射介质彩色成像、非入侵大视场成像和多光学记忆效应范围成像。

答辩人及论文简介

朱进进，博士研究生，就读于西安电子科技大学光电工程学院，主要研究方向为结构光三维测量技术、图像处理。以第一作者发表SCI论文3篇、5篇发明专利，1篇会议EI，1篇中文核心，并获得第七届全国大学生光电设计竞赛西北赛区团体一等奖、荣获“中关村青联杯”第十二届全国研究生数学建模竞赛三等奖。

论文题目：结构光三维成像技术动态测量中相位提取方法研究

简介：基于数字条纹投影的结构光三维测量技术具有非接触、高精度、大视场以及低成本等优点，已广泛应用在工业检测，航空航天，逆向工程，文物保护以及安防等领域。然而传统的数字条纹投影技术仅限于静止物体的三维面形检测，难以满足实际应用中动态物体的测量需求，为此研究基于数字条纹投影的结构光动态三维测量技术具有重要的科学意义和应用价值。本论文以实现动态物体的高精度三维测量为目标，围绕相位测量模型的建立、相位误差补偿、运动误差抑制等方面开展相关研究，为实现高精度的动态三维测量技术提供有效的手段。